步入式芯片环境温度老化试验室

步入式芯片环境温度老化试验室 是较小尺寸较小容量的高低温试验箱； 步入式高低温环境试验室 是较大尺寸较大容量的高低温试验室。两者除了尺寸容量不同，功能、用途、满足标准、执行标准、使用行业均是差不多的。 步入式高低温环境试验箱 箱体内胆采用 不锈钢（SUS3042B）氩弧焊制作而成，箱体外胆采用冷轧板喷塑。 步入式高低温环境试验室 整体结构采用耐高温耐低温库板拼装而成。它们的控制器均是采用微电脑温度控制器，控温可靠。控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示；资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机；具有RS-232或USB通讯界面，可在电脑上设计程序，监视试验过程并执行自动开关机等功能。

步入式芯片环境温度老化试验室 的技术参数：

1 、内容积 :6M3 、 8M3 、 10M3 、 12M3 、 15M3 、 18M3 、 20M3 、 30M3 、 50M3 、 ( 除了这些容积，更大或者更小的均可来电定制）。

2 、内室尺寸与外型尺寸：以客户的测试件所需尺寸或场地等需求定制合理的内外尺寸，建议双方电谈或者面谈了解清楚实际需求再确定具体所需尺寸，能有效节约成本及满足实际需要。

3 、温度范围： RT ～ 85 ℃或更高请致电说明。

4 、（单 / 双 ) 开门选择，如双： W （ 800+800 ） mm × H1900mmW ；（可依客户要求选择或定制）。

5 、满足标准： GB/T 5170.2-2008 温度试验设备、 GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法 Bb 、 GJB150.3-1986 高温试验、 GJB150.3(ML-STD0-810D) 高温试验方法、 GJB360.8-87(MIL-STD-202f) 高温寿命试验。

6 、工作噪音： A 声级≤ 70dB(A) ( 在环温 25 ℃，回声少的隔音室内测得；采用 A 计权，测试 8 个点的平均值；各测试点水平离噪音源 1 米、高度离地面 1 米 ) 。

7 、温度波动：温度：≤± 0.5 ℃  （指控制器设定值和控制器实测值之差）。

8 、温度均匀度：温度：≤ 2.0 ℃（均匀度为每次空载测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值）。

9 、温度升温时间：约 40min 。

10 、电源： AC380V ， 三相四线＋保护地线。